?探针测试一体化式设计,测试可靠,精度高
?全自动上下片系统,支持双cassette测试
wafer支持平边或Notch两种定位方式
兼容4,6吋的晶圆测试
精准芯粒扫描与自定义测试结合
主动式针压调整技术,针痕控制可靠
快速升降温系统(可?。?br />
测试波段覆盖紫外(UVC/UVB/UVA)、蓝光、绿光、黄光、红光、白光等(可?。?br />
电流源档位1.5A@200V
ESD包含多种规格,具备业内较长的ESD使用寿命.(可?。?br />
支持常规电性参数,光性参数包含WLP/WLD/WLC/HW/PURITY/CIE-x/CIE-y/CCT/RA/R1-R15
支持Mini、Microv LED挡位